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紅外測溫在工業(yè)現(xiàn)場應(yīng)用中的干擾問題輻射測溫為非接觸測溫，在測量中常常受到外界干擾。這些干擾大致可分為光路中的干擾、外來光的干擾、發(fā)射率變化的干擾、環(huán)境溫度變化和電磁方面的干擾， 其中環(huán)境溫度變化及電磁方面的干擾，在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)測溫儀時(shí)應(yīng)充分考慮。在應(yīng)用中主要應(yīng)保證儀器所允許的環(huán)境溫度范圍和對(duì)電源的要求，可以釆取一些如水冷套、穩(wěn)壓電源等措施，本文重點(diǎn)討論來自光學(xué)方面的干擾。 一、光路中的干擾 一般把被測表面和輻射測溫儀之間在測量上所必須通過的空間距離稱作光路，例如，要測量軋制中的鋼板表面溫度，在鋼板上經(jīng)常生成一層氧化皮并不斷剝落；為了冷卻設(shè)備和產(chǎn)品，常常在被測表面上停留有水膜，在被測表面附近還經(jīng)常存在著濃度化的水蒸氣等；大氣中還在CO2、CO、O2等有選擇性吸收氣體和塵埃等。這些都是光路中的干擾，如不考慮將會(huì)帶來很大誤差，甚至導(dǎo)致失去測量的意義！下面我們分幾次簡要介紹克服和減弱光路中各種干擾的辦法。 上一篇測量可能存在的問題下一篇紅外線測溫儀距離分析及如何選購 |
